美再次逮捕中国籍工程师 指控其窃取F35机密 环球网分享 围绕F-22和F-35，美国多次控告华裔或中国籍人士“窃密” 围绕F-22和F-35，美国多次控告华裔或中国籍人士“窃密” 近年来，美国已经多次逮捕华裔或者中国籍工程师、科学家和商人，指控他们涉嫌窃取美国军事机密。本周二，又一起类似案件被公开，这次被捕的是一名中国籍工程师，他曾受雇于普拉特&惠特尼公司， 美国检察官指控他试图携带一种钛材料的相关数据返回中国。 美《防务周刊》今日报... 2014年12月11日 杂记 暂无评论 喜欢 0 阅读 1 次 阅读全文